UV-2202PCST平台式平片光谱测试仪是专为大平片样品及液晶显示屏、光学等制造行业工件的现场检测和质量控制设计的专用测试仪器。

仪器特点和功能

 ◆ 采用先进的光、机、电、微计算机模快化设计,具有超群的性能和性价比，使操作更为简便。

 ◆ 配置高性能“全息光栅”的低杂散光高分辨率的单色器,光学精度及测量准确性。

 ◆ 仪器具有良好的稳定性、重现性。

 ◆ 先进的自动调校0%T和100%T等控制功能。

 ◆ 具有定波长测试、双波长测试（550nm、850nm）及多波长测试和光谱扫描等功能。

 ◆ 仪器设计超小的测量孔径Φ2mm，满足客户对各种样品的需求。

 ◆ 可靠的断电保护措施，可记忆测得数据、扫描图谱、并实现了仪器快速初始化。

 ◆ 具有峰谷检测以及平均值的求取等各种高级功能，可快速直接准确的直读数据。

 ◆ 仪器具有开放式的样品室，克服了传统仪器无法测试尺寸较大样品的缺陷，不需要将样品裁剪成小的尺寸就可直接测试了。

 ◆ 联机操作，可实现光度测量、光谱扫描、定量测试、时间扫描及数据处理等功能。

 ◆ 标准RS-232通讯接口(串口)，可通过应用软件与电脑联机。

仪器测试图谱

主要技术指标

 ◆ 波长范围：      190nm～1100nm

 ◆ 波长精度：      ±0.5nm

 ◆ 波长重复性：    ≤0.2nm

 ◆ 光谱带宽：      0.5,1,2,4nm可选

◆ 测 量 范 围       0-125%T, -0.097-2.700A, 0-1999C

 ◆ 透射比准确度： ±0.5%（τ）

 ◆ 透射比重复性： ≤0.2%（τ）

 ◆ 基线直线性：   ±0.004A

 ◆ 杂散光：       ≤0.3%T(340、420nm)

 ◆ 可 测 片：   500mm x 500mm   

 ◆ 工作电压：     AC 100V~240V  50Hz/60Hz