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型号
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名称
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总放大倍数
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测量范围
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分辨率
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精度
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备注
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9J
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光切法显微镜
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目视:510X
摄影装置放大倍数:约6倍
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表面光洁度范围
1.0～80um
(▽3-▽9)
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基本款
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9JD
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光切法显微镜
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目视:510X
摄影装置放大倍数:约6倍
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表面光洁度范围
1.0～80um
(▽3-▽9)
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配USB摄像头.
连接电脑,可拍摄储存
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9JV
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光切法显微镜
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目视:510X
摄影装置放大倍数:约6倍
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表面光洁度范围
1.0～80um
(▽3-▽9)
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加配高品质数码相机
不接电脑,也可以直接拍摄储存
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型号
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名称
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总放大倍数
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测量范围
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分辨率
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精度
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备注
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33JA
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入射式读数显微镜
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62.5X
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1mm
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0.001mm
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非常小巧.
1.高倍数
2.高精度
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型号
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名称
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总放大倍数
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测量范围
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分辨率
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精度
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备注
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JXD-B
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读数显微镜
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30X,标配
80X,选购
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0-50MM
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0.01mm
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0．015mm
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JXD-250A
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读数显微镜
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30X,标配
80X,选购
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0-250MM
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0.01mm
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0．015mm
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1.坐标中测定长度，例如：孔距,基面距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,内,外圆直径等。
2.转动度盘测定角度，例如：样板,量规钻孔模板及几何形状复杂的零件进行外形和角度测量。
3.用作观察显微镜，以比较法检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本,检验纤维及印刷,照相和电子行业的细微作业等。
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型号
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名称
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总放大倍数
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测量范围
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分辨率
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精度
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备注
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15J
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测量显微镜
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25X-100X
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X-Y：50x13mm
刻度盘分度:0-360o,分度值6′
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0.01mm
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±(5+L/15)umL－被测件长度mm
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无光源,
机械读数
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15JA
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测量显微镜
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25X-100X
|
X-Y：50x13mm
刻度盘分度:0-360o,分度值6′
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0.01mm
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±(5+L/15)umL－被测件长度mm
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有下照明光源
机械读数
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15JE
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测量显微镜
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25X-100X
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X-Y：50x13mm
刻度盘分度:0-360o,分度值6′
|
0.001mm
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±(5+L/15)umL－被测件长度mm
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本身无光源,可选购光源.
数显读数
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15JF
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测量显微镜
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25X-100X
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X-Y：50x13mm
刻度盘分度:0-360o,分度值6′
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0.001mm
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±(5+L/15)umL－被测件长度mm
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有上下光源,
液晶数显读数
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型号
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名称
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总放大倍数
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测量范围
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分辨率
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精度
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备注
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107J
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研究型测量显微镜
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40X-400X
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工作台150*150mm
测量范围:X-Y:50*50mm
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机械读数:0.001
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2-3微米以内
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107JA
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研究型测量显微镜
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40X-400X
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工作台150*150mm
测量范围:X-Y:50*50mm
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数显读数:0.0005
|
2-3微米以内
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107JC
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研究型测量显微镜
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40X-400X
|
工作台150*150mm
测量范围:X-Y:50*50mm
|
数显读数:0.0005
|
2-3微米以内
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107JV
|
研究型测量显微镜
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40X-400X
|
工作台150*150mm
测量范围:X-Y:50*50mm
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数显读数:0.0005
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2-3微米以内
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三维测量
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107JPC
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研究型测量显微镜
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40X-400X
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工作台150*150mm
测量范围:X-Y:50*50mm
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数显读数:0.0005
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2-3微米以内
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成像系统,加测量软件
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107JPCV
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研究型测量显微镜
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40X-400X
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工作台150*150mm
测量范围:X-Y:50*50mm
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数显读数:0.0005
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2-3微米以内
|
三维测量
成像系统,加测量软件
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型号
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名称
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总放大倍数
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测量范围
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分辨率
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精度
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备注
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6JA
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干涉显微镜
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目视:500X
照相:168X
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表面光洁度范围
0.03～1μm
(▽10～▽14)
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0.01mm
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型号
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名称
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工作台测量范围
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工作台调平范围
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分辨率
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CANY-19
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测量显微镜
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100*100
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±5MM
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0.0005MM
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