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JDG-S2
立式光学计,立式光学比较仪,光学计,光学比较仪,数显立式光学计
型号: JDG-S2 查看同类
名称:立式光学计,立式光学比较仪,光学计,光学比较仪,数显立式光学计
立式光学计,光学比较,光学计,立式测长
被测件长度:200mm
显示值:0.1μm
测量误差:±(0.5+L/100)μm

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型号 名称 简介.
JDG-S2 立式光学计,立式光学比较仪,光学计,光学比较仪,数显立式光学计 立式光学计,光学比较,光学计,立式测长
被测件长度:200mm
显示值:0.1μm
测量误差:±(0.5+L/100)μm


用途:
本仪器是以直接法或比较法测量工件的尺寸.它可对五等量块,量棒,钢球,线形及平行平面状精密量具和零件的外型尺寸作精密测量.本仪器头部亦可作为一个独立体,在科研,生产过程控制及在线检测等方面,对被测件作位移测量,是检测部门常用的计量仪器.

主要技术规格:
1.被测件长度:200mm
2.直接测量范围:10mm
3.显示值:0.1μm
4.测量力:(2±0.2)N
5.示值变动性:0.1μm
6.不准确度:±0.25μm
7.读数方式:数字显示
8.测量误差:±(0.5+L/100)μm,L是被测长度,以mm计
9.仪器体积:300×170×410mm
10.仪器重量:18kg

标准配件:
1.可调带筋园台
2.可调园平台
3.带筋固定方台
4.平面测帽Ф2
5.平面测帽Ф8
6.小球面测帽
7.刃形测帽


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