名称:科研级.薄膜测厚仪,精度0.1um. 薄膜测厚仪,膜厚仪,膜厚测试仪,纸张测厚仪
CM90,是科研级的薄膜测厚仪. 1.可以检测,塑料薄膜,薄片,隔膜,纸张,箔片,硅片 2.精度可以达到0.1um. 3.实时显示测量结果的大值,小值,平均值以及标准偏差等数据. 4.数字显示,也可以加配电脑,做分析用. 5.可以自动进样,每隔一定距离自动采点. 测试范围: 0-2mm(常规), 0-6mm;12 mm(可选) 分辨率: 0.1um 测量速度: 10次/min,可调 测量压力: 17.5±1 KPa(薄膜), 50±1 KPa(纸张) 接触面积: 50mm2(薄膜), 200mm2(纸张) 接触面积: 备注,薄膜,纸张任选一种,非标可定制 进样步距: 0 - 1000mm 标准:满足ISO,GB,ASTM等十多个国标标准. 联系电话,021-6573 0171 |
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