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EDX8300
X荧光光谱仪
型号: EDX8300 查看同类
名称:X荧光光谱仪
•采用自主研发的SES,加强实际有效信号,测量更准确
•六种光路准直过滤系统,根据不同样品自动切换,测试更准确
•采用电制冷硅针半导体探测器,P/B值[峰背比]达到6200,数据分析更准确

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型号 名称 测量元素 元素含量分析范围 测量时间
EDX8300 X荧光光谱仪 从硫至铀等 75 种元素 2ppm-99.99% 100-300s

产品特点

·采用自主研发的SES,加强实际有效信号,测量更准确

·六种光路准直过滤系统,根据不同样品自动切换,测试更准确

·采用电制冷硅针半导体探测器,P/B值[峰背比]达到6200,数据分析更准确

·使用自己研发的高压电源和X射线管,仪器工作更稳定

·超大样品放置腔,使用更方便

·外形设计,精湛的工艺,大幅降低辐射 

·多重高压保护系统,并附带温度监控, 让仪器工作更稳定

·专门针对ROHS开发的测试软件,操作界面十分友好

·自动选择校准曲线,多种谱图数据处理方法,使数据测量更准确

·简洁大方的外型设计

产品参数

样品腔尺寸:610mm * 320mm * 100mm

采用电制冷硅针半导体探测器,能量分辨率为:  145-170 eV

自主开发的高压电源,高输出功率为50w(电压:50w-50kv;电流:50-1000uA)

自主研发的X射线管,灯丝电流大输出1mA

仪器工作温度: 15-30℃

仪器工作电源:交流 220±5V(建议配置交流净化稳压电源)

重量:45kg

测量元素: 从硫至铀等 75 种元素

元素含量分析范围: 2ppm-99.99%

RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br) 检测限高达 1ppm

测量时间: 100-300s

自带六种光路准直过滤系统

三重安全保护模式

专门针对ROHS开发的测试软件,自动选择工作校准曲线,界面友好,使用方便

相互独立的基体效应校正模型

 

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