CSM系列超细粒度分析仪介绍

一. 简介CSM超细颗粒粒度分析仪是一种基于消光法原理的新型颗粒粒度分析仪器，用于测量超细颗粒的粒度分布。本仪器由主机，计算机和打印机，仪器操作软件等组成。仪器具有操作简单，测量时间短，操作软件良好的人机对话界面等优点。可广泛用于电子，光学，化工，医药等行业测量超细固体颗粒、悬乳剂、悬浮液等的颗粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方图形式给出被测颗粒的粒度分布和累积分布的测量结果，以及 D 32， Dv50等多种平均粒径和比表面积。 主机内包括光源，光学系统，测量样品池，光电信号转换及放大系统，A/D数据采集卡等。主机输出信号通过 USB电缆与计算机的 USB口相连接，计算机对主机测量进行控制和数据处理，并打印输出结果。

CSM系列超细粒度分析仪主要技术特点：

大功率白色光源

美国海洋光学光谱接收器

集多年研究之成果，消光理论的应用

反演算法，保证颗粒测量的准确

5.USB接口，仪器与计算机分离，可配任意具有 USB接口之计算机；台式、笔记本、移动 PC均可；

微量固定样品池，超高感应灵敏度，仅需少量样品

软件个性化，提供测量向导等众多功能，方便用户操作；

8.测量结果输出数据丰富，保存在数据库中，能用任意参数，如操作者姓名，样品名，日期，时间等进行调用分析，与其他软件实现数据共享；

9.仪器造型美观，体积小重量轻；

10.测量精度高，重复性好，测量时间短；

11.软件提供众多物质折射率供用户选择，满足用户查找被测颗粒折射率要求；

12.考虑到测试结果的保密要求，只有授权操作者才能进入相应 数据库读取数据和处理；

二. 主要技术指标 .

‹光源功率：20瓦 12伏卤素灯；

‹粒径测量范围：0.05μm－10.0μm

‹重复测量误差：< 2％；

•测量误差： <3< span="">％ (用国家标准颗粒检验)；

•数据输出：体积、数量微分分布和累积分布表和图表；多种统计平均直径；操作者姓名、单位、样品名；选用折射率，测量时间等相关信息。

•通讯接口：USB接口。

•样品池：固定样品池

•测量分析时间：正常条件下小于 1分钟（从开始测量到显示分析结果）。

•工作环境温度：5－30 ℃；

•电源：180－240V，50 Hz；

•外形尺寸：320X280X120 mm3；

•重量：约 3.5 公斤

三. 工作条件

室内温度：15℃-35℃

相对温度：不大于85%（无冷凝）

建议用交流稳压电源1KV，无强磁场干扰。

4.由于在微量级的范围内的测量，仪器应放在坚固可靠、无振动的工作台上，并且在少尘条件下进行测量。

仪器不应放在太阳直射、风大或温度变化大的场所。

设备必须接地，保证安全和高精度。

室内应清洁、防尘、无腐蚀性气体。

四. 工作原理消光法(Extinction)是光散射颗粒测量技术中的一种，又称浊度法(Turbidimetry)。消光法的基本原理是，当光束穿过一含有颗粒的介质时，由于受到颗粒的散射和吸收，使得穿过介质后的透射光强度受到衰减，其衰减程度与颗粒的大小和数量(浓度)相关，这就为颗粒测量提供了一个尺度。与散射光能颗粒测量方法显著不同的是，消光法测量时所接收的不是颗粒的散射光，而是非散射光(透射光)，所以光强较强。光源大都采用白光而不是单色激光，此外，除颗粒粒径外，消光法还能同时测得颗粒的浓度，与其它光散射方法相比，这是它的一个突出特点。 消光法的原理简单，测量方便，对仪器设备的要求较低，测量范围相对较宽，下限为数十个纳米，上限约 10 µm左右，测量结果准确，重复性好，测量速度快。因此，该方法不仅在胶体化学，高分子化学以及分析化学等实验室分析中得到了广泛应用，还在在线测量中得到越来越多的应用，如对高分子聚合过程的测量和监控，内燃机排气中固体微粒粒径的测量，大型火力发电厂和原子能电厂中蒸汽湿度和水滴直径的测量，烟尘排放浓度的监控等。

消光法的测量原理如图 1所示。如果一束直径远大于被测颗粒粒径、强度为I0、波长为 λ的平行单色光入射到一含有被测颗粒群的介质时，由于颗粒对光的散射和吸收作用，光的强度将受到衰减

图2.仪器实样