BR2940F系列二极管反向电流测试仪

BR2940F微电脑两极管反向峰值电流测试仪

特点；

    国标的直流测试法。

高灵敏度，高精度，宽量程。可测从几个纳安到1mA的反向电流。

可设置测反向电流、击穿点电压、击穿斜率、带电容(大1uf)测反向电流共4种方式。既适合于极低漏电流的测试，又适合二极管的高温测试。

可辅助分析管子的软硬击穿和异常击穿特以及漏电形式。

液晶显示：主参数大字显示，辅助参数小字显示。

设置数据自动保存，下次开机自动调出，给使用带来方便。

可设置参数超出报警的条件。击穿斜率测试模式可代示波器测转折点。

一：产品简介:

BR2940F型二极管反向峰值电流测试仪,是根据国标GB4023.Ⅳ,IEC747-2.Ⅳ设计的。它采用直流法测试两极管，其测试电压是机内产生的，其值不受电源的影响。而且本机的特点是在被测管的P-N结充满电后才测量反向电流，可排除PN结电容的影响，保证符合标准的规定，从而保证了测试的准确度，且可测试小到几个纳安的漏电流。本机可扩充(可选件)自动测试功能。

本机的方框图如下:

VR:

1.1  幅度15-120V(±1.5％±0.2V),120-1200V(±1.5％±2V)两档,档位自动设置。测试击穿点电压和斜率在30-1200V间设置(方式1-2)。（为汽车业设计的款式）

幅度15-200V(±2.5％±0.5V),201-2000V(±2.5％±2V)两档,档位自动设置。测试击穿点电压和斜率在30-2000V间设置(方式1-2)。（为电子业设计的款式）

  1.2  稳定度优于电源电压变化的±3％±1V/8h。

  1.3  液晶显示,分辩力 1V。(低档为0.1V,仅方式0)

  2.   IR： 

  2.1  满量程分4uA,40 uA,400uA,2000uA共4档,档位自动设置。

设置电压的限制如下：(2KV机)

2.2  准确度:≤显示值的±2.5％±4字,(2000uA档≤显示值的±5％±5字-仅到1000uA) 。

2.3  分辩力：分别为1nA(4uA档)-1uA(2000uA档)。

2.4  报警设置：显示档的1-100%。

2.5  带电容测试：大电容1uf。(带电容测试方式仅限于手动测试)

  3.   空载电流：当无测试合,无被测管,VR=1KV时，IR显示≤5字。

  4.   使用条件：

       电    源：220V±5％，频率50-60HZ。

       环境温度：0-40℃。

       相对湿度：≤75％RH。

       开机预热2分钟后使用。

       工作方式：连续。

  5.   其它；

       外形尺寸：240*260*100mm。

       重    量：3Kg。

       耗    电：≤15VA(为电子业设计的机型≤20VA)。

三：使用方法

    将测试合的插头按左右顺序插于主机面板孔内，开启电源。显示：

为电子工业设计的款式（VR15-2000V）因使用电子管作高压输出，故要求开机至少半分钟后，待电子管正常工作后再行设置。

在箭头←指“方式”栏时，按“设置”键,可在常规(方式0)/测VR(方式1)/测Rr(方式2)/常规*C(方式3)共4种测试方式中选其一。按“确定”转第2页，按“选择”转报警与否的修改。（含自动测试功能的机型{方式3}为自动测试）

箭头←指“报警”栏时，按“设置”对报警功能开或关，按“确定”转第2页，按“选择”转“方式”的修改。

第二页的显示：内容与第一页设置的测试方式有关。

第二页方式0或3(常规测试)的显示：

按“确定”认可本页显示的数据并转第3页。

按“选择”转另一行的修改，←也移到另一行。

在箭头←指相应栏时，按“设置”键,可按数字和小数点键重新设定数据。按“确定”存储所作的修改。

VRm和IRm的档位是根据输入数据自动设置的，不需人为干预。

VRm只认可1位小数，多余小数将被删除。VRm设置范围是15-1200V。(为电子业设计的款式为15-2000V)

IRm即为报警阀值，在报警开启时，测得IR超出IRm即发出报警声。在报警未开时则不报警。

第二页方式1(测试VR)的显示：

按“确定”认可本页显示的数据并转第3页。

按“选择”转另一行的修改，←也移到另一行。

在箭头←指相应栏时，按“设置”键,可按数字和小数点键重新设定数据。按“确定”存储所作的修改,但VRm和VRn不认可小数，输入小数将被删除。因而VRn/VRm的档位自动设高档。

VRn应为30-1000V，否则将被删除要求重输入。(为电子业设计的款式为30-1800V)

VRm应大于VRn的110%，范围35-1200V，否则将被删除要求重输入。(为电子业设计的款式为35-2000V)

IRm的档位是根据输入数据自动设置的，不需人为干预。

VRn、VRm即为报警阀值，在报警开启时，如在VRn电压下IR已经超出IRm，或直到VRm漏电还未达IRm即发出报警声。在报警未开时则不报警。

       第二页方式2(测试Rr)的显示：

按“确定”认可本页显示的数据并转第3页。

按“选择”转另一行的修改，←也移到另一行。

在箭头←指相应栏时，按“设置”键,可按数字和小数点键重新设定数据。按“确定”存储所作的修改。但VRn不认可小数，输入小数将被删除。因而VRn的档位自动设高档。

VRn应为30-1000V，否则将被删除要求重输入。(为电子业设计的款式为33-1500V)

IRn和IRm的档位是根据输入数据自动设置的，不需人为干预。但IRm应大于IRn的110%以上，否则将被删除要求重输入。

Rr在单位K时不认可小数，有小数将被删除。Rr单位为M时只认可1位小数，多于1位小数将被转为单位K。Rr的数值可任意输入。

在报警开启时，如反向击穿点电阻>Rr、在VRn时已经超出IRn、在本机高输出电压还未达到IRm即发出报警声。在报警未开时则不报警。

第3页的显示：

1秒钟后进入测试状态。

显示按照测试方式分别：

方式0或3：

方式1：

方式2：

本机会自动巡环测试，在测试方式0时大约每秒测试3次，测试方式1-2时因机内需多次测试，方式3因要等电容充满电故速度变慢，变慢程度依所设置的VRn和VRm的差而不同，一般要近1秒。在VRn和VRm的差较少时速度会加快。

所设参数本机会自动记忆，关机不丢失。下次开机时会自动显示所存的数据，如无修改即可立即使用。(按“确定”键2次)

使用中需修改设置参数或改变测试方式，可在显示测试结果的状态下按“设置”键进入修改状态才能重新设置或修改。

各测试方式的进一步说明：

方式0的测试参数VRm的设置一般设在击穿电压以下，如VRm的设置非常接近击穿电压，则所测试到的IR数据会摆动较大。在已知VRm的设置在击穿电压以下较多时则可能芯片有裂痕或边缘漏电。如IR数据不断上升，则可能芯片受污染。如IR数据不断下降则芯片可能未干燥。当测试得出IR数据超出报警值时，在开启报警时会发出报警声。

方式1的测试参数VRn和VRm分别为测试电压的下限和上限，本机在测试电压的下限开始每增大5%电压测试一次，直到测得IR数据超过设置值或VRm上限为止。如在测试电压的下限和上限范围内正常测得IR数据超过设置值则显示当时的VR、IR数据，如在测试电压的下限时IR已经超出或在下限和上限范围内未找到IR数据超过设置值的情况，在开启报警时会发出报警声。如果显示IR数据摆动较大，在被测管正常时往往代表该管是硬击穿特性。如果显示VR数据不断下跌，则表示该管为软击穿特性。

要注意的是：因为每测试一次，测试电压增大5%，故方式1的显示IR数据往往超出设置较多，当属正常情况。

由于本机在方式1时电压分辨率为1V，故方式1不适合测试30V以下的稳压/雪崩管。

方式2是由设定两个电流(IRn和IRm)，用方式1的测试方式测试2次，得到2个电压(VRn和VRm)，再用公式计算得反向击穿后的等效电阻的，该电阻代表管子的击穿特性的硬度，等效电阻越小管子特性越硬。如在测试电压的下限时IR1已经超出设置值或在下限和本机大电压范围内未找到IR2数据超过设置值的情况，在开启报警时会发出报警声。

由于IR1和IR2在内部处理(不显示)，如方式1所述原因，等效电阻的显示往往比主观想象的小，且有一定摆动，当属正常情况。

由于本机在方式2时电压分辨率为1V，故方式2不适合测试30V以下的稳压/雪崩管，以免影响准确性。

测试时涉及IR很微小时，环境交流干扰显得巨大。连接(+)测试孔的线应用屏蔽线且将屏蔽层连接到(┷)接地孔，线端的测试笔和放置被测管的台面亦相应屏蔽。另外，人手会感应到强大的交流干扰，因此不要用手按住被测试管。

    控制接口：        (含自动测试功能的机型BR2940FZ)

1：信号输出(不合格输出为高) 

13：触发输入(↓) 宽度15-100μs

14：送光传感器正电流(10mA)

                      6-8：共地。

注意！插头插入面板孔后请不要旋转，否则旋松了面板孔后螺丝，铜芯中心碰到面板造成短路，就表现出电压不稳定。

四：工作原理：

高压部分包括高频高压发生器，它由TR1、2，IC1、2和高压变压器组成。

IC1组成自激式电压谐振开关电源控制器，它发生关断时间固定的脉冲去控制TR2，在IC1输出开通TR2期间高压变压器B1储存能量，在IC1发出关断TR2的期间，高压变压器产生高压。如高压太高，R12-13及R14、W4的分压使TR1导通，从而IC2导通使IC1的开通TR2时间变短从而高压变压器B1储存能量变少，于是高压变低，达到高压稳压的目的。TR5和J1为VR高低档转换用。

测试电压基准由DA转换器IC7在CPU的指令下产生，经IC4B控制TR4产生。TR3为2mA的恒流负载，亦在TR4关闭时，TR3可输出2mA的测试电流，又不会导致高压功耗过大。测试电压由R15-16及R19返回IC4B来稳定。

IR电流经R18送IC3放大，在CPU的控制下IC5作量程控制用。IC4A将IR信号倒相后送IC6（AD转换器）转换成为数字交CPU处理。

CPU是整机指挥控制的核心，它控制AD和DA，还经IC5控制量程，经TR5控制输出电压档位，经TR6控制讯响器，以及控制液晶显示。CPU还接受键盘输入和经IC8将设置数据保存，以便下次开机自动调出显示和修改，以方便用户使用本机。

CPU(微处理器)编号IC10，它负责数字数据处理和输入输出工作。

4种测试方式的原理有所不同：

方式0是简单的，在被测管上加VRM反向电压，测试反向电流即可。

方式3是在方式0基础上待电容充满电再测试，故测试速度稍慢。

方式1是反向电压从VRn(小值)开始，测试一下反向电流加5%的测试电压,如此反复，直到反向电流超出设置值或反向电压达VRm为止，这时读出所加的反向电压和电流。

方式2是在方式1测得在反向电流IRn下的反向电压1和在反向电流IRm下的反向电压2(类似方式1测试2次)，然后按以下公式计算Rr：

五：检验方法；

1:功能的检验：

在方式0-2和不同反向电压的二极管在仪器上测试，检查各功能应无异常。

    2:VR的检验：

      VR的幅度在方式0条件下设定VRm,由数字电压表测量。

3:IR的检验：

  IR在VR合格后检验，在方式0条件下，将1、10、100M电阻R联接左右接线柱，设置VR和按IR=VR/R预置IR，且进入测试并读出IR值。读出值应扣除VR误差带来的影响。IR=2mA档的测试,只测到1mA为止。